武汉冷热冲击试验箱内箱150L用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，航天、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都是需要它的理想测试工具。

高低温冲击试验箱满足标准：
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验

武汉冷热冲击试验箱内箱150L技术参数：

型号:GT-TC-150

工作室尺寸:600mm*500mm*500mm（高*宽*深）

1、温度上限：+150℃
2、温度下限：-65℃
3、温度偏差：±1℃
4、温度波动度：±0.5℃
5、温度恢复时间：5min
6、高温室升温时间：30min (+25℃～+150℃)
7、低温室降温时间：90min (+25℃～-65℃)
8、噪音：（dB）≤65
9、 电源：AC380V/50Hz+保护接地
10、总功率：10.5KW    

好设备，共分享!好设备的价值体现，不仅在于产品厂商服务的是否优良，而且还在于产品材料、零配件的好坏，以及产品所具备的功能是否达到要求。对此，我们所提供的产品必须具备令客户信服的强大功能。